SWIR / 10 GigE
Solução de imagem industrial para Semiconductor
Short-Wave Infrared (SWIR) + 10 GigE 165 fps, single-pass wafer crack detection
Soluções profissionais personalizadas
Serviços de suporte técnico
Casos de uso comprovados
Casos de uso
Internal Defect Detection in Solar Panels
Jan 16, 2024
Características técnicas e vantagens
Tecnologia profissional de imagem personalizada para o setor de Semiconductor
Tecnologia de imagem avançada
Uso de sensores de imagem líderes do setor e algoritmos de processamento de imagem para garantir qualidade e desempenho excepcionais.
Soluções de integração flexíveis
Várias interfaces e suporte a SDK facilitam a integração com sistemas existentes e atendem a diferentes requisitos de aplicação.
Operação confiável e estável
Rigorosamente testado e validado para garantir operação estável e confiável em diferentes ambientes industriais.