Câmeras SWIR para detecção de defeitos internos em painéis solares

As câmeras SWIR da ToupTek ajudam na inspeção não destrutiva de painéis solares e componentes semicondutores, detectando trincas, falhas de solda, partículas e anomalias internas.

Fotovoltaica e semicondutores

Aplicação de câmeras SWIR em linhas de produção de painéis solares

Contexto da solução

Na fabricação de painéis solares, a inspeção de qualidade afeta diretamente o rendimento, a vida útil e a estabilidade do processo. Muitos defeitos ficam abaixo da superfície visível ou aparecem apenas em determinadas etapas de produção. A imagem em infravermelho de ondas curtas (SWIR) revela detalhes difíceis de detectar por inspeção visual convencional.

Principais desafios de inspeção

Câmeras SWIR podem identificar microtrincas, riscos, partículas, delaminação, problemas de solda e desvios em trilhas condutoras ou estruturas de chip. A faixa espectral, normalmente em torno de 1,0 a 1,7 µm, oferece contraste adicional em materiais difíceis de avaliar com luz visível.

Solução com câmeras SWIR ToupTek

As câmeras SWIR da ToupTek oferecem alta sensibilidade, baixo ruído e saída de imagem estável para integração em linhas industriais. Com iluminação, disparo, análise por software e guiamento mecânico adequados, permitem detectar defeitos sem contato e com boa repetibilidade.

Valor para a produção

A detecção precoce de falhas críticas reduz refugo e retrabalho, melhora a rastreabilidade e ajuda a manter a qualidade do produto. Como o método é não destrutivo, materiais e componentes não são afetados durante a inspeção.

Detecção de defeitos internos em painéis solares com câmera SWIR
Imagem SWIR para controle de qualidade fotovoltaico

Soluções profissionais de imagem: esperamos colaborar com você

A ToupTek Photonics conta com uma equipe técnica profissional e ampla experiência no setor. Da consultoria de produto ao suporte técnico, oferecemos serviços de qualidade durante todo o processo.

Endereço da empresa

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