太陽光発電・半導体
太陽電池パネル生産ラインにおけるSWIRカメラの活用
ソリューションの背景
太陽電池パネルの製造では、品質検査が歩留まり、寿命、工程安定性に直接影響します。多くの欠陥は可視光では見えにくい内部や表面下に存在します。短波赤外（SWIR）イメージングは、従来の目視検査では捉えにくい特徴を可視化します。
主な検査対象
SWIRカメラは、微細クラック、傷、粒子、層間剥離、はんだ接合不良、配線やチップ構造の位置ずれなどの検出に役立ちます。一般的に1.0〜1.7 µm付近の波長域を利用することで、可視光とは異なる材料コントラストを得られます。
ToupTek SWIRカメラによる構成
ToupTekのSWIRカメラは、高感度、低ノイズ、安定した画像出力を備え、産業ラインへの組み込みに適しています。照明、トリガ、画像解析ソフトウェア、搬送機構と組み合わせることで、非接触かつ再現性の高い欠陥検査を実現できます。
生産現場での効果
重要欠陥を早期に検出することで、廃棄や手戻りを低減し、トレーサビリティと製品品質の安定化に貢献します。非破壊検査であるため、検査中に材料や部品へ影響を与えません。
