SWIR / 10 GigE
Semiconductor solución de imagen industrial
Short-Wave Infrared (SWIR) + 10 GigE 165 fps, single-pass wafer crack detection
Soluciones profesionales a medida
Servicios de soporte técnico
Casos de uso probados
Casos de uso
Internal Defect Detection in Solar Panels
Jan 16, 2024
Características técnicas y ventajas
Tecnología de imagen profesional adaptada al sector Semiconductor
Tecnología de imagen avanzada
Uso de sensores de imagen líderes del sector y algoritmos de procesamiento para garantizar una calidad y un rendimiento de imagen excelentes.
Soluciones de integración flexibles
Múltiples interfaces y compatibilidad con SDK facilitan la integración en sistemas existentes y cubren diversos escenarios de aplicación.
Funcionamiento estable y fiable
Probado y validado rigurosamente para garantizar un funcionamiento estable y fiable en distintos entornos industriales.
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