SWIR / 10 GigE
Semiconductor solution d'imagerie industrielle
Short-Wave Infrared (SWIR) + 10 GigE 165 fps, single-pass wafer crack detection
Solutions professionnelles sur mesure
Services d'assistance technique
Cas d'utilisation éprouvés
Cas d'utilisation
Internal Defect Detection in Solar Panels
Jan 16, 2024
Caractéristiques techniques et avantages
Technologie d'imagerie professionnelle adaptée au secteur Semiconductor
Technologie d'imagerie avancée
Utilisation de capteurs d'image de référence et d'algorithmes de traitement pour garantir une qualité et des performances d'image élevées.
Solutions d'intégration flexibles
Plusieurs interfaces et la prise en charge des SDK facilitent l'intégration dans les systèmes existants et répondent à différents scénarios d'application.
Fonctionnement stable et fiable
Testé et validé avec rigueur afin de garantir un fonctionnement stable et fiable dans divers environnements industriels.
Autres solutions industrielles
