Série SWIR de computadores
Apresentação do produto
Série SWIR de computadores é uma série de lentes de imagem profissional desenvolvida para a faixa de comprimentos de onda SWIR (400-1700 nm), e amplamente utilizada em Aplicações SWIR de última geração, Inspeção de precisão e outros campos.
Características do produto
- Cobertura multiespectral: luz visível, SWIR, UV
- Design de alta resolução, suporta sensores de alta contagem de pixels
- Excelente desempenho óptico
- Qualidade industrial, estável e confiável
- Montagem C padrão, alta compatibilidade
Apresentação das séries de lentes multiespectrais de visão industrial
Soluções profissionais de imagem para luz visível, SWIR e UV
Plataforma óptica unificada para imagem multiespectral
A série de lentes multiespectrais de visão industrial da ToupTek cobre as necessidades de imagem em luz visível (VIS), infravermelho de ondas curtas (SWIR, 900–1700 nm) e UV (200–400 nm), oferecendo uma plataforma óptica unificada para inspeção industrial, pesquisa científica, semicondutores e sistemas avançados de visão industrial.
As lentes usam vidro especial, projeto óptico corrigido em cor e revestimentos de banda larga para cobrir várias faixas de comprimento de onda em um único sistema óptico, mantendo consistência de imagem e baixas aberrações. Compatíveis com C-Mount, F-Mount e montagens personalizadas, atendem às exigências multiespectrais de câmeras industriais e de pesquisa de alta resolução.
Análise técnica detalhada
Projeto óptico profissional para imagem multiespectral de alta precisão
Adaptabilidade de amplo espectro
- Uma única lente pode cobrir luz visível, SWIR (900–1700 nm) e UV (200–400 nm), reduzindo custos de troca de sistema
- O vidro óptico especial corrigido em cor reduz com eficácia as aberrações e deslocamentos de imagem entre comprimentos de onda, garantindo consistência do centro às bordas da imagem
Processamento óptico profissional
- O revestimento antirreflexo de banda larga (BBAR) otimiza a transmissão, reduz reflexões e melhora a relação sinal/ruído
- Os elementos ópticos usam vidro com baixo coeficiente de dilatação térmica e carcaça metálica, garantindo estabilidade do eixo óptico e precisão de imagem a longo prazo
Alta resolução e suporte a múltiplas montagens
- Cobre sensores de 2/3 de polegada até full-frame, suporta câmeras de alta resolução de 20 MP+ e garante precisão de inspeção e medição
- Compatível com C-Mount, F-Mount, M42 e outras montagens industriais padrão, com adaptadores personalizados para facilitar a integração do sistema
Ampla gama de aplicações
- Indústria de semicondutores e eletrônica: inspeção de wafers, detecção de defeitos em FPC e foco compensado por infravermelho
- Pesquisa e análise de materiais: imagem multiespectral e experimentos de resposta espectral
- Controle de qualidade industrial e visão industrial: inspeção de materiais transparentes, detecção de defeitos de superfície e imagem de alto contraste sob iluminação UV
Por que escolher as lentes multiespectrais da ToupTek?
Integração multiespectral
Uma única lente atende às necessidades de imagem VIS/SWIR/UV, reduzindo a quantidade de equipamentos e o tempo de troca
Baixa aberração e alta transmissão
Vidro especial e revestimento de banda larga garantem boa consistência de cor e alto contraste
Design industrial de alta resolução
Compatível com 20 MP+, adequado para inspeção 2D/3D e imagem científica
Montagens flexíveis
Suporte a C-Mount, F-Mount e outros padrões para integração rápida em sistemas existentes
Detalhes do produto
Produtos
A série de lentes Série SWIR de computadores foi desenvolvida especialmente para aplicações na faixa de comprimentos de onda SWIR (400-1700 nm). Combina projeto óptico avançado e tecnologia de revestimento otimizada para obter melhores resultados de imagem nessa faixa espectral. Esta série se destaca por alta resolução, baixa distorção e alta transmissão, atendendo aos requisitos de diversas aplicações, como Aplicações SWIR de última geração, Inspeção de precisão.
Cenários de aplicação
Aplicações SWIR de última geração
Inspeção de precisão
Principais vantagens
- Cobertura multiespectral: cobre luz visível, infravermelho de ondas curtas (SWIR), UV e outras faixas espectrais para diferentes requisitos de imagem por comprimento de onda
- Projeto de alta resolução: projeto óptico avançado compatível com sensores de alta contagem de pixels, oferecendo imagens nítidas e claras
- Baixa distorção: tecnologia precisa de correção óptica que garante fidelidade geométrica, adequada para aplicações de medição de precisão
- Projeto de grande abertura: proporciona maior entrada de luz e é adequado para aplicações em baixa iluminação
- Robusta e confiável: projeto de grau industrial com carcaça metálica para operação estável em ambientes exigentes
Comparação de especificações da série Série SWIR de computadores
| Modelo | Distância focal | Abertura | Resolução | Distorção | Montagem | Manual |
|---|---|---|---|---|---|---|
| H0514-VSW(1/2") | 5mm | F1.4-F16C | - | -0.48% | C | |
| M0814-VSW | 8mm | F1.4-F16C | - | -0.10% | C | |
| M1214-VSW | 12mm | F1.4-F16C | - | -0.10% | C | |
| M1614-VSW | 16mm | F1.4-F16C | - | -0.10% | C | |
| M2514-VSW | 25 mm | F1.4-F16C | - | -0.30% | C | |
| M3514-VSW | 35mm | F1.4-F16C | - | -0.80% | C | |
| M5018-VSW | 50 mm | F1.8-F16C | - | -0.30% | C | |
| M0818-APVSW | 8mm | F1.8-F16 | - | 0.40% | C | |
| M1218-APVSW | 12mm | F1.8-F16 | - | 0.00% | C | |
| M1618-APVSW | 16mm | F1.8-F16 | - | 0.00% | C | |
| M2518-APVSW | 25 mm | F1.8-F16 | - | 0.00% | C |
Descrição do desempenho óptico
Curva MTF
A função de transferência de modulação (MTF) é um indicador importante para avaliar a qualidade de imagem de uma lente e mostra sua resposta a diferentes frequências espaciais. Nossas lentes mantêm excelentes valores MTF dentro da faixa de frequência espacial de projeto, garantindo resultados de imagem nítidos e claros.
Correção de aberração cromática
O uso de vidros ópticos especiais e tecnologias avançadas de revestimento corrige com eficácia a aberração cromática, especialmente em aplicações de amplo espectro, para garantir que diferentes comprimentos de onda sejam focalizados no mesmo plano e que o desfoque por dispersão seja reduzido.
Controle de distorção
Com projeto óptico preciso e processos de fabricação controlados, a distorção da lente é mantida em nível extremamente baixo. A maioria dos modelos apresenta distorção inferior a 1 %, e alguns modelos de alto desempenho chegam a menos de 0,1 %, atendendo a requisitos de medição de precisão.
Projeto otimizado para SWIR
Para os requisitos específicos do infravermelho de ondas curtas, são usados materiais ópticos infravermelhos dedicados. Formulações otimizadas de revestimento garantem alta transmissão e excelente qualidade de imagem na faixa de 900–1700 nm.
Garantia de desempenho
Todas as lentes passam por rigorosos testes de desempenho óptico antes da entrega para garantir que cada unidade atenda às especificações indicadas. Fornecemos relatórios de teste detalhados e certificados de qualidade.
Cenários de aplicação
Aplicações práticas das lentes multiespectrais em diferentes setores
Inspeção de wafers semicondutores
A penetração do SWIR no silício permite detectar defeitos internos nos wafers, enquanto a luz visível é usada para inspeção de superfície, formando um sistema multidimensional de controle de qualidade.
- Detecção de defeitos internos
- Identificação de defeitos de superfície
- Detecção de marcas de alinhamento
Pesquisa em ciência dos materiais
A tecnologia de imagem multiespectral ajuda pesquisadores a observar a resposta dos materiais sob diferentes espectros, fornecendo dados importantes para o desenvolvimento de novos materiais e análise de desempenho.
- Análise de resposta espectral
- Estudo de propriedades dos materiais
- Mapeamento de defeitos
Controle de qualidade de produtos industriais
Os comprimentos de onda UV aumentam o contraste de defeitos de superfície, o SWIR revela estruturas internas, e a luz visível permite inspecionar cor e aparência para uma garantia de qualidade abrangente.
- Detecção de defeitos de superfície
- Análise de estruturas internas
- Medição dimensional