300–1700 nm | SWIR CQD(量子ドット)中国製 | USB3 |非冷却 | SWIRカメラ SWIRカメラ
製品一覧
CQD シリーズの非冷却 SWIR カメラは、革新的な量子ドット (CQD) センサーに依存しており、非常に広い 300–1700 nm 帯域幅を実現します。USB3 高速データパスを備えたコンパクトな筐体は、ポータブル検査、実験室研究、材料分析に適しています。高感度、低ノイズ、グローバルシャッター、広範な IO インターフェース、SDK 互換性により、革新的な研究および産業アプリケーションにとって理想的なソリューションとなります。
主な特長
- 300–1700 nm 広帯域CQD量子ドットセンサー
- 小型・軽量設計
- 高感度、グローバルシャッター
- USB3 高速データインターフェース
- 高いフレームレートと Windows / Linux / macOS / Android の SDK サポート
- 豊富な IO インターフェース、外部トリガーをサポート
- 4Gb メモリ
- フィールドファームウェアアップデートと OEM カスタマイズをサポート
製品モデル
オプション 800-1700 / 400-1700 | CQDシリーズ | USB3 非冷却 300–1700 nm 量子ドット SWIR カメラ
| モデル | センサー | 解像度 | ピクセルサイズ | スペクトル範囲 | フレームレート | データインターフェース | ダイナミックレンジ | 操作 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| SWIR335KMB-UMV |
中国製 640×512 (CQDs)
9.60 mm × 7.68 mm
|
0.33 MP (640×512) | 15 µm × 15 µm |
400–1700 nm
|
200 fps @ 640×512
|
USB3 |
-
|
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| SWIR336KMB-UMV |
中国製 640×512 (CQDs)
9.60 mm × 7.68 mm
|
0.33 MP (640×512) | 15 µm × 15 µm |
300–1400 nm
|
400 fps @ 640×512
|
USB3 |
66 dB
|
詳細を見る |
量子効率曲線 #
300–1700 nm 非冷却 CQD バージョンの代表的な量子効率
公式の曲線図は、波長に対する量子効率の代表的な傾向を示す参考資料です。SWIR335 の感度範囲は 400–1700 nm、SWIR336 の感度範囲は 300–1400 nm です。
製品寸法 #
非冷却 USB3 コンパクトモデル(C-Mount)の寸法図
よくある質問
短波赤外(SWIR)向けCQD-SWIRカメラの技術情報
CQD-SWIRカメラの主な利点
拡張性の高いCMOSアーキテクチャと柔軟な量子ドット材料を組み合わせた設計
広帯域スペクトル調整
CQD材料と粒子サイズを適切に選択することで、300–1700 nmおよび それ以上の感度範囲を構成でき、多様な用途に対応できます。
魅力的な価格性能比
標準化されたCMOSプロセスをベースにした製造により、InGaAsソリューション と比べてコストを大幅に抑え、量産製品への統合を容易にします。
高解像度と小型ピクセル
高い画素密度に対応し、細部まで鮮明に描写できるため、精密検査工程で 微小欠陥を見つけやすくなります。
常温動作と冷却動作
常温で低ノイズイメージングを実現し、ハイエンド用途向けにはオプションで TEC冷却を組み合わせることができます。
持続可能で規格に準拠
Ag₂TeやInAsなどの新世代CQD材料はRoHSに準拠し、グローバルな持続可能性 要件に対応します。
高い統合性
コンパクトな寸法と低消費電力により、CQDカメラは組込みシステムや スマート端末への組み込みに適しています。
アプリケーションシナリオ
CQD-CMOS-SWIRカメラの用途分野
マシンビジョンと検査
半導体検査、プラスチック・食品・医薬品の選別、印刷検査などで、 高精度なSWIRイメージングを活用できます。
過酷環境でのイメージング
霧、煙、粉じんがある環境でも、SWIRカメラは明瞭な画像を提供し、 信頼性の高い視認性を確保します。
材料分析と研究
高いスペクトル精度により、材料識別、科学実験、農業分野の選別工程に 適しています。
スマートセンサーとコンシューマー用途
暗視、非接触診断、スマート端末のセキュリティ用途など、新しい機能の 実現を支援します。