1インチSWIRシリーズ

製品紹介

1インチSWIRシリーズは SWIR (900-1700 nm) の波長帯向けに開発された業務用イメージングレンズシリーズで、 1 in センサーに対応し、高解像度 SWIR イメージング, 精密検査などの分野で広く使用されています。

製品特長

マルチスペクトル範囲: 可視光、SWIR、UV
高解像度設計、高画素数センサーをサポート
優れた光学性能

工業品質、安定した信頼性
標準Cマウント、高い互換性

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マシンビジョン用マルチスペクトルレンズシリーズ概要

可視光、SWIR、UV に対応する業務用イメージングソリューション

マルチスペクトルイメージング向けの統合光学プラットフォーム

ToupTek のマシンビジョン用マルチスペクトルレンズシリーズは、可視光 (VIS)、短波赤外線 (SWIR, 900–1700 nm)、 UV (200–400 nm) のイメージング要件をカバーし、産業検査、科学研究、半導体、高性能マシンビジョンシステムに統合光学プラットフォームを提供します。

各レンズは特殊ガラス、色補正光学設計、広帯域コーティング技術を採用し、1 つの光学系で複数の波長帯をカバーします。画像の一貫性と低収差を維持し、C-Mount、F-Mount、カスタムマウントに対応することで、高解像度の産業用および研究用カメラのマルチスペクトル用途に適合します。

詳細な技術解析

高精度マルチスペクトルイメージング向けの業務用光学設計

広帯域スペクトル対応

1 本のレンズで 可視光、SWIR (900–1700 nm)、UV (200–400 nm) をカバーでき、システム切り替えコストを低減します
色補正用の特殊光学ガラスにより、波長間の収差と画像位置ずれを効果的に抑え、画像中心から周辺まで一貫性を確保します

業務用光学処理

広帯域反射防止コーティング (BBAR) が透過率を最適化し、反射を抑え、SN 比を向上させます
光学素子には低熱膨張係数ガラスと金属筐体設計を採用し、光軸の安定性と長期的なイメージング精度を確保します

高解像度と複数マウント対応

2/3 インチからフルサイズまでのセンサーをカバーし、20 MP+ の高解像度カメラに対応して、検査と測定の精度を確保します
C-Mount、F-Mount、M42 などの産業標準マウントに対応し、カスタムアダプターによる容易なシステム統合をサポートします

幅広い用途

半導体・電子産業: ウェハ検査、FPC 欠陥検出、赤外補正フォーカス
研究・材料解析: マルチスペクトルイメージング、スペクトル応答実験
産業品質管理とマシンビジョン: 透明材料検査、表面欠陥検出、UV 照明下での高コントラストイメージング

ToupTek のマルチスペクトルレンズを選ぶ理由

マルチスペクトル統合

1 本のレンズで VIS/SWIR/UV のイメージング要件を満たし、機器数と交換時間を削減します

低収差と高透過率

特殊ガラスと広帯域コーティングにより、色の一貫性と高いコントラストを確保します

高解像度産業向け設計

20 MP+ に対応し、2D/3D 検査および科学イメージングに適しています

柔軟なマウント対応

C-Mount、F-Mount など複数規格に対応し、既存システムへ迅速に統合できます

製品詳細

製品一覧

1インチSWIRシリーズレンズシリーズは、 SWIR (900-1700 nm) の波長帯アプリケーション向けに開発されました。高度な光学設計と最適化されたコーティング技術により、このスペクトル帯で優れたイメージング結果を実現します。高解像度、低歪曲、高透過率を特長とし、高解像度 SWIR イメージング, 精密検査などの用途要件に対応します。

アプリケーションシナリオ

高解像度 SWIR イメージング

精密検査

主な利点

マルチスペクトル対応: 可視光、短波赤外線 (SWIR)、UV などのスペクトル範囲をカバーし、波長ごとの多様なイメージング要件に対応します
高解像度設計: 高画素センサーに対応する高度な光学設計により、シャープでクリアな画質を提供します
低歪曲: 精密な光学補正技術により画像ジオメトリの精度を確保し、精密測定用途に適しています
大口径設計: より多くの光を取り込み、低照度環境での用途に適しています
堅牢で信頼性が高い: 産業グレード設計と金属筐体により、厳しい環境でも安定して動作します