4/3 pouces série SWIR
Présentation du produit
4/3 pouces série SWIR est une série d'objectifs d'imagerie professionnelle développée pour la plage de longueurs d'onde SWIR (900-1700 nm), compatible avec les capteurs 1/1.8 in, et largement utilisée dans Imagerie SWIR avec un large champ de vision, Inspection industrielle et d'autres domaines.
Caractéristiques du produit
- Couverture multispectrale : lumière visible, SWIR, UV
- Conception haute résolution, prend en charge les capteurs à nombre de pixels élevé
- Excellentes performances optiques
- Qualité industrielle, stable et fiable
- Monture C standard, haute compatibilité
Présentation des séries d'objectifs multispectraux de vision industrielle
Solutions d'imagerie professionnelles pour la lumière visible, le SWIR et l'UV
Plateforme optique unifiée pour l'imagerie multispectrale
La série d'objectifs multispectraux de vision industrielle ToupTek couvre les besoins d'imagerie en lumière visible (VIS), infrarouge à ondes courtes (SWIR, 900–1700 nm) et UV (200–400 nm), et fournit une plateforme optique unifiée pour l'inspection industrielle, la recherche scientifique, les semi-conducteurs et les systèmes de vision industrielle haut de gamme.
Les objectifs utilisent des verres spéciaux, une conception optique corrigée en couleur et des revêtements large bande pour couvrir plusieurs plages de longueurs d'onde dans un seul système optique, tout en assurant la cohérence d'image et de faibles aberrations. Compatibles avec C-Mount, F-Mount et des montures personnalisées, ils répondent aux exigences multispectrales des caméras industrielles et scientifiques haute résolution.
Analyse technique détaillée
Conception optique professionnelle pour les exigences d'imagerie multispectrale de haute précision
Adaptation à large spectre
- Un seul objectif peut couvrir les plages lumière visible, SWIR (900–1700 nm) et UV (200–400 nm), ce qui réduit les coûts de changement de système
- Le verre optique spécial corrigé en couleur réduit efficacement les aberrations et décalages d'image entre longueurs d'onde, tout en assurant la cohérence du centre aux bords de l'image
Traitement optique professionnel
- Le revêtement antireflet large bande (BBAR) optimise la transmission, réduit les réflexions et améliore le rapport signal/bruit
- Les éléments optiques utilisent un verre à faible coefficient de dilatation thermique et un boîtier métallique, assurant la stabilité de l'axe optique et la précision d'imagerie à long terme
Haute résolution et prise en charge multi-monture
- Couvre les capteurs du format 2/3 pouce au plein format, prend en charge les caméras haute résolution 20 MP+ et garantit la précision d'inspection et de mesure
- Compatible avec C-Mount, F-Mount, M42 et d'autres montures industrielles standard, avec prise en charge d'adaptateurs personnalisés pour simplifier l'intégration système
Applications étendues
- Industrie des semi-conducteurs et de l'électronique : inspection de wafers, détection de défauts FPC, mise au point compensée en infrarouge
- Recherche et analyse des matériaux : imagerie multispectrale, expériences de réponse spectrale
- Contrôle qualité industriel et vision industrielle : inspection de matériaux transparents, détection de défauts de surface, imagerie à contraste élevé sous éclairage UV
Pourquoi choisir les objectifs multispectraux ToupTek ?
Intégration multispectrale
Un seul objectif couvre les besoins d'imagerie VIS/SWIR/UV, réduisant le nombre d'équipements et le temps de remplacement
Faible aberration et haute transmission
Le verre spécial et le revêtement large bande assurent une bonne cohérence des couleurs et un contraste élevé
Conception industrielle haute résolution
Compatible avec 20 MP+, adapté à l'inspection 2D/3D et à l'imagerie scientifique
Montures flexibles
Prise en charge de C-Mount, F-Mount et d'autres standards pour une intégration rapide dans les systèmes existants
Détails du produit
Produits
La série d'objectifs 4/3 pouces série SWIR a été développée spécialement pour les applications dans la plage de longueurs d'onde SWIR (900-1700 nm). Elle associe une conception optique avancée et une technologie de revêtement optimisée afin d'obtenir de meilleurs résultats d'imagerie dans cette plage spectrale. Cette série se distingue par sa haute résolution, sa faible distorsion et sa transmission élevée, et répond aux exigences de différentes applications telles que Imagerie SWIR avec un large champ de vision, Inspection industrielle.
Scénarios d'application
Imagerie SWIR avec un large champ de vision
Inspection industrielle
Avantages clés
- Couverture multispectrale : couvre la lumière visible, l'infrarouge à ondes courtes (SWIR), l'UV et d'autres plages spectrales pour répondre à différents besoins d'imagerie par longueur d'onde
- Conception haute résolution : conception optique avancée compatible avec les capteurs à grand nombre de pixels, offrant une image nette et claire
- Faible distorsion : technologie de correction optique précise assurant la fidélité géométrique de l'image, adaptée aux mesures de précision
- Conception à grande ouverture : apporte davantage de lumière et convient aux applications en faible luminosité
- Robuste et fiable : conception industrielle avec boîtier métallique pour un fonctionnement stable dans les environnements exigeants
Comparaison des spécifications de la série 4/3 pouces série SWIR
| Modèle | Distance focale | Ouverture | Résolution | Distorsion | Monture | Manuel |
|---|---|---|---|---|---|---|
| TPL-NV3514SWIR | 35 mm | F1.4-F16 | 60lp/mm | -0.40% | M42X1(T) |
Description des performances optiques
Courbe MTF
La fonction de transfert de modulation (MTF) est un indicateur important pour évaluer la qualité d'image d'un objectif et montre sa réponse aux différentes fréquences spatiales. Nos objectifs conservent d'excellentes valeurs MTF dans la plage de fréquence spatiale prévue, assurant des images nettes et claires.
Correction des aberrations chromatiques
L'utilisation de verres optiques spéciaux et de technologies de revêtement avancées corrige efficacement les aberrations chromatiques, notamment dans les applications à large spectre, afin que les différentes longueurs d'onde soient focalisées sur le même plan et que le flou lié à la dispersion soit réduit.
Contrôle de la distorsion
Grâce à une conception optique et à des procédés de fabrication précis, la distorsion de l'objectif reste à un niveau extrêmement faible. La plupart des modèles présentent une distorsion inférieure à 1 %, et certains modèles haut de gamme atteignent même moins de 0,1 %, répondant ainsi aux besoins de mesure de précision.
Conception optimisée pour le SWIR
Pour les exigences spécifiques de l'infrarouge à ondes courtes, des matériaux optiques infrarouges dédiés sont utilisés. Les formulations de revêtement optimisées garantissent une transmission élevée et une excellente qualité d'image dans la plage 900–1700 nm.
Garantie de performance
Tous les objectifs sont soumis à des tests stricts de performances optiques avant livraison afin de garantir leur conformité aux spécifications indiquées. Nous fournissons des rapports de test détaillés et des certificats de qualité.
Scénarios d'application
Applications pratiques des objectifs multispectraux dans différents secteurs
Inspection de wafers semi-conducteurs
La pénétration du SWIR dans le silicium permet de détecter les défauts internes des wafers, tandis que la lumière visible sert à l'inspection de surface, formant un système de contrôle qualité multidimensionnel.
- Détection des défauts internes
- Identification des défauts de surface
- Détection des repères d'alignement
Recherche en science des matériaux
La technologie d'imagerie multispectrale aide les chercheurs à observer la réponse des matériaux sous différents spectres, fournissant des données importantes pour le développement de nouveaux matériaux et l'analyse des performances.
- Analyse de la réponse spectrale
- Étude des propriétés des matériaux
- Cartographie des défauts
Contrôle qualité des produits industriels
Les longueurs d'onde UV renforcent le contraste des défauts de surface, le SWIR révèle les structures internes, et la lumière visible permet l'inspection de la couleur et de l'apparence pour une assurance qualité complète.
- Détection des défauts de surface
- Analyse des structures internes
- Mesure dimensionnelle