Série BMM100 - Système de microscope métallographique en champ clair
Description du produit
Le microscope métallographique en champ clair se compose principalement de systèmes d'éclairage, d'imagerie et de mécanique. C'est un instrument optique précis utilisé dans de nombreux domaines de la science et de l'ingénierie modernes, ainsi qu'un outil d'inspection important. La microscopie métallographique prend de plus en plus d'importance, notamment en biologie, géologie, minéralogie et médecine.
Caractéristiques techniques
- Série d'objectifs avec distance de travail standard ou longue (en option)
- Canal d'image : 1× (distance focale du tube 180 mm) ; Réducteurs personnalisés disponibles
- Canal d'image – Taille du champ d'image : 25 mm
- Canal image – plage spectrale : lumière visible
- Interface caméra : C-Mount
- Éclairage : Critique ou Köhler sélectionnable
- Éclairage : LED blanche/bleue 10 W
Domaines d'application
Détails du produit
Paramètres techniques de base
| Paramètres du système optique | |
| Objectifserie | Série à distance de travail standard / série à longue distance de travail (optionnelle) |
| Chemin d'imagerie | 1X (distance focale du tube 180 mm), compatible avec différentes lentilles de grossissement |
| Taille d'image | 25 mm |
| Gamme spectrale | Lumière visible |
| Connexion caméra | C/M42/M52, entre autres options |
| Paramètres du système d'éclairage | |
| Type d'éclairage | Éclairage critique ou Köhler sélectionnable |
| Source lumineuse | Éclairage LED lumière blanche ou bleue 10 W sélectionnable |
Tableau des paramètres des objectifs
Série à distance de travail standard
| Modèle | Grossissement | Ouverture numérique (NA) | Distance de travail (WD) | Distance focale | Résolution | Champ de vision objet | Champ de vision image | Filetage |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BF5XA | 5X | 0.15 | 23.5 mm | 39 mm | 2.2 µm | 5 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BF10XA | 10X | 0.3 | 22.8 mm | 20 mm | 1.1 µm | 2.5 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BF20XA | 20X | 0.4 | 19.2 mm | 10 mm | 0.8 µm | 1.1 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BF50XA | 50X | 0.55 | 11 mm | 4 mm | 0.6 µm | 0.44 mm | 25 mm | M26*0.705 |
Série à longue distance de travail
| Modèle | Grossissement | Ouverture numérique (NA) | Distance de travail (WD) | Distance focale | Résolution | Champ de vision objet | Champ de vision image | Filetage |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BFL2XA | 2X | 0.055 | 33.7 mm | 100 mm | 6.1 µm | 12.5 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL5XA | 5X | 0.14 | 33.6 mm | 40 mm | 2.2 µm | 5 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL10XA | 10X | 0.28 | 33.4 mm | 20 mm | 1.2 µm | 2.5 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL20XA | 20X | 0.34 | 29.5 mm | 10 mm | 0.8 µm | 1.25 mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL50XA | 50X | 0.5 | 18.9 mm | 4 mm | 0.7 µm | 0.5 mm | 25 mm | M26*0.705 |
Plan dimensionnel du produit
Solution de configuration du système
Combinaison flexible de modules matériels et logiciels selon les exigences de l'application
| Dimension | Configuration clé | Points techniques forts | Bénéfice client |
|---|---|---|---|
| Matériel d'imagerie |
• Série ToupCam X : IMX415/IMX571 et autres BSI CMOS, jusqu'à 45 MP, USB 3.0/HDMI 60 fps 4K • Module portable HCAM/PUM : UVC Plug & Play, anneau LED 8 points intégré |
• Faible bruit de lecture et plage dynamique supérieure à 66 dB • Options Rolling Shutter et Global Shutter |
Rendu des couleurs réaliste et contraste élevé ; adapté à l'AOI haute vitesse, aux signaux de fluorescence faibles et à d'autres applications |
| Optique zoom |
• Série MZO (0,25×–8×) : rapport de zoom 20×, NA 0,12, longue distance de travail de 174 mm • ZOPE tout-en-un : 8 LED intégrées, caméra USB et zoom linéaire parfocal |
Double trajet optique parallèle, MTF limitée par la diffraction et faible distorsion | Zoom sans remise au point, du millimètre au micromètre |
| Système d'éclairage |
• Anneau LED TZM0756DRL 65/85 mm : luminosité PWM réglable en continu • Éclairage coaxial TZM0756CL + source ponctuelle • Grand anneau lumineux AALRL-200 : champ de vision uniforme de 300 mm |
Éclairage mixte multicanal, polarisé et coaxial ; angle LED réglable à 30° | Résout les reflets sur soudures PCB, rayures de wafers et inspection de films minces transparents |
| Plateforme mécanique |
• Support TPS-600 à réglage grossier/fin (capacité 5 kg) • Réglage fin de précision TPS-300, pas de 2 µm • Plateforme motorisée Z et XY (optionnelle) |
Aluminium anodisé en alliage aéronautique classe II et guidage linéaire à roulements | Positionnement stable 24×7 sur le long terme, compatible avec l'autofocus et le balayage en réseau |
| Logiciels et algorithmes |
• ToupView : mesure/annotation en temps réel, synthèse de profondeur de champ, HDR et analyse de polarisation • SDK/API: Windows/macOS/Linux/Android • Module IA : classification des défauts et détermination des tolérances dimensionnelles |
Développement secondaire et protocoles d'interface PLC/robot | Intégration rapide aux systèmes qualité MES/SPC, compatible avec edge computing et synchronisation cloud |
Avantages du système
Cinq avantages clés pour une plateforme professionnelle d'imagerie microscopique
Écosystème complet et livraison clé en main
Caméra, objectif, éclairage, support et logiciel sont développés en interne. La solution Plug & Play évite les achats multiples et réduit le temps d'intégration.
Haute résolution et grande profondeur de champ
CMOS Ultra-HD 45 MP associé à un algorithme de synthèse de profondeur de champ pour des images nettes à l'échelle micrométrique dans un champ de vision de 30 mm.
Imagerie multispectrale et faible luminosité
Compatible avec la lumière blanche, le proche infrarouge et les combinaisons de polarisation avec éclairage coaxial et annulaire synchronisé ; révèle les détails de texture même à 0,05 lux.
Extension flexible et protection de l'investissement
La monture C standard et les protocoles GigE Vision/USB3 Vision permettent des mises à niveau futures avec modules IA, platines automatiques et synchronisation multicaméra sans remplacer le corps principal.
Cas d'utilisation multisectoriels
- Semi-conducteurs : AOI des bumps, rayures et défauts de fils de bonding
- FPC/PCB : hauteur de pâte à braser et contrôle des résidus de soudure
- Nouvelles énergies : taille des pores du séparateur lithium et uniformité du revêtement d'électrode
- Sciences de la vie : coupes de tissus, entomologie et observation de plantes vivantes
- Éducation et formation : cours universitaires sur les matériaux, expériences virtuelles et ateliers STEAM
Cas d'utilisation
Expériences de mise en œuvre réussies dans plusieurs secteurs
Production de semi-conducteurs
Contrôle qualité FPC/PCB
Matériaux pour nouvelles énergies
