serie BMM100 - Sistema de microscopio metalográfico de campo claro
Descripción del producto
El microscopio metalográfico de campo claro se compone principalmente de sistemas de iluminación, imagen y mecánica. Es un instrumento óptico preciso utilizado en muchas áreas de la ciencia y la ingeniería modernas y una herramienta de inspección importante. La microscopía metalográfica cobra cada vez más relevancia, especialmente en biología, geología, mineralogía y medicina.
Características técnicas
- serie de lentes con distancia de trabajo estándar o larga (opcional)
- Canal de imagen: 1× (distancia focal del tubo 180 mm); Reductores personalizados disponibles
- Canal de imagen – Tamaño del campo de imagen: 25 mm
- Canal de imagen – rango espectral: luz visible
- Interfaz de cámara: C-Mount
- Iluminación: Crítica o Köhler seleccionable
- Iluminación: LED blanco/azul de 10 W
Áreas de aplicación
Detalles del producto
Parámetros técnicos básicos
| Parámetros del sistema óptico | |
| Objetivoserie | serie de distancia de trabajo estándar / serie de larga distancia de trabajo (opcional) |
| Trayectoria de imagen | 1X (distancia focal del tubo 180 mm), compatible con diferentes lentes de aumento |
| Tamaño de imagen | 25 mm |
| Rango espectral | Luz visible |
| Conexión de cámara | C/M42/M52, entre otras opciones |
| Parámetros del sistema de iluminación | |
| Tipo de iluminación | Iluminación crítica o Köhler seleccionable |
| Iluminaciónsquelle | Iluminación LED de luz blanca o azul de 10 W seleccionable |
Tabla de parámetros de objetivos
serie de distancia de trabajo estándar
| Modelo | Aumento | Apertura numérica (NA) | Distancia de trabajo (WD) | Distancia focal | Resolución | Campo de visión del objeto | Campo de visión de imagen | Rosca |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BF5XA | 5X | 0.15 | 23.5mm | 39 mm | 2.2µm | 5mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BF10XA | 10X | 0.3 | 22.8mm | 20mm | 1.1µm | 2.5mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BF20XA | 20X | 0.4 | 19.2mm | 10mm | 0.8µm | 1.1mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BF50XA | 50X | 0.55 | 11mm | 4mm | 0.6µm | 0.44mm | 25 mm | M26*0.705 |
serie de larga distancia de trabajo
| Modelo | Aumento | Apertura numérica (NA) | Distancia de trabajo (WD) | Distancia focal | Resolución | Campo de visión del objeto | Campo de visión de imagen | Rosca |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BFL2XA | 2X | 0.055 | 33.7mm | 100 mm | 6.1µm | 12.5mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL5XA | 5X | 0.14 | 33.6mm | 40 mm | 2.2µm | 5mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL10XA | 10X | 0.28 | 33.4mm | 20 mm | 1.2µm | 2.5mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL20XA | 20X | 0.34 | 29.5mm | 10 mm | 0.8µm | 1.25mm | 25 mm | M26*0.705 |
| BFL50XA | 50X | 0.5 | 18.9mm | 4 mm | 0.7µm | 0.5mm | 25 mm | M26*0.705 |
Plano dimensional del producto
Solución de configuración del sistema
Combinación flexible de módulos de hardware y software según los requisitos de la aplicación
| Dimension | Configuración clave | Aspectos técnicos destacados | Beneficio para el cliente |
|---|---|---|---|
| Hardware de imagen |
• serie ToupCam X: IMX415/IMX571 y otros BSI CMOS, hasta 45 MP, USB 3.0/HDMI 60 fps 4K • Módulo portátil HCAM/PUM: UVC Plug & Play, anillo LED de 8 luces integrado |
• Bajo ruido de lectura y rango dinámico superior a 66 dB • Opciones Rolling Shutter y Global Shutter |
Reproducción de color realista y alto contraste; adecuado para AOI de alta velocidad, señales de fluorescencia débiles y otras aplicaciones |
| Óptica de zoom |
• serie MZO (0,25×–8×): relación de zoom 20×, NA 0,12, distancia de trabajo larga de 174 mm • ZOPE todo en uno: 8 LED integrados, cámara USB y zoom lineal parfocal |
Doble trayectoria óptica paralela, MTF limitada por difracción y baja distorsión | Permite hacer zoom sin reenfoque, desde escala milimétrica hasta micrométrica |
| Sistema de iluminación |
• Anillo LED TZM0756DRL de 65/85 mm: brillo PWM ajustable de forma continua • Luz coaxial TZM0756CL + fuente de luz puntual • Anillo luminoso AALRL-200: campo visual uniforme de 300 mm |
Iluminación mixta multicanal, polarizada y coaxial; ángulo LED ajustable a 30° | Resuelve reflejos en soldaduras de PCB, rayas en obleas e inspección de películas delgadas transparentes |
| Plataforma mecánica |
• Soporte TPS-600 con ajuste grueso/fino (capacidad de 5 kg) • Ajuste fino de precisión TPS-300 con paso de 2 µm • Plataforma motorizada Z y XY (opcional) |
Aluminio anodizado de aleación aeronáutica clase II y guía lineal con rodamientos | Posicionamiento estable 24×7 a largo plazo, compatible con enfoque automático y escaneo en matriz |
| Software y algoritmos |
• ToupView: medición/anotación en tiempo real, síntesis de profundidad de campo, HDR y análisis de polarización • SDK/API: Windows/macOS/Linux/Android • Módulo de IA: clasificación de defectos y determinación de tolerancias dimensionales |
Desarrollo secundario y protocolos de interfaz para PLC/robots | Integración rápida con sistemas de calidad MES/SPC, compatible con edge computing y sincronización en la nube |
Ventajas del sistema
Cinco ventajas clave para una plataforma profesional de imagen microscópica
Ecosistema completo y entrega llave en mano
Cámara, objetivo, iluminación, soporte y software desarrollados internamente. Evita compras múltiples y reduce el tiempo de integración con Plug & Play.
Alta resolución y gran profundidad de campo
CMOS Ultra-HD de 45 MP combinado con algoritmo de síntesis de profundidad de campo para imágenes nítidas a escala micrométrica en un campo visual de 30 mm.
Imagen multiespectral y de baja luminosidad
Compatible con luz blanca, infrarrojo cercano y combinaciones de polarización con iluminación coaxial y anular sincronizada; muestra detalles de textura incluso a 0,05 lux.
Expansión flexible y protección de la inversión
La montura C estándar y los protocolos GigE Vision/USB3 Vision permiten futuras actualizaciones con módulos de IA, platinas automáticas y sincronización multicámara sin sustituir el cuerpo principal.
Casos de uso en múltiples sectores
- Semiconductores: AOI de bumps, arañazos y defectos en hilos de bonding
- FPC/PCB: altura de pasta de soldadura e inspección de residuos de soldadura
- Nuevas energías: tamaño de poros del separador de litio y uniformidad del recubrimiento de electrodos
- Ciencias de la vida: cortes de tejido, entomología y observación de plantas vivas
- Educación y formación: cursos universitarios de materiales, experimentos virtuales y cursos STEAM maker
Casos de uso
Experiencias de implementación exitosas en múltiples sectores
Producción de semiconductores
Control de calidad FPC/PCB
Materiales para nuevas energías
