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Sistemas de microscopios especializados Sistemas profesionales de imagen microscópica

Productos

Sistemas de microscopio profesionales para aplicaciones especializadas que incluyen SWIR, contraste de interferencia diferencial, metalografía de campo claro, fluorescencia y polarización.

Características principales

  • Diseño especializado, optimizado para aplicaciones específicas
  • Componentes ópticos de alta calidad
  • Configuración modular, fácilmente ampliable
  • Adecuado para investigación e inspección industrial
  • Solución de sistema completa
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Encuentre rápidamente el sistema de microscopía adecuado según sus requisitos de aplicación

Sistemas de microscopios especializados

Sistemas de microscopio profesionales para aplicaciones especializadas que incluyen SWIR, contraste de interferencia diferencial, metalografía de campo claro, fluorescencia y polarización.

BSM - Sistema de microscopio infrarrojo de onda corta

La serie BSM es un sistema de microscopio modular para infrarrojos de onda corta (SWIR) con un rango espectral de 900–1700 nm. Combina iluminación Köh...

Parámetros de objetivos M Plan Apo NIR
Nombre del objetivo Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Profundidad de campo FN Peso
M Plan Apo NIR 5X 0.14 37.5 mm 40 mm 2.0 µm 14 µm 24 mm 220 g
M Plan Apo NIR 10X 0.26 30.5 mm 20 mm 1.1 µm 4.1 µm 24 mm 250 g
M Plan Apo NIR 20X 0.4 20 mm 10 mm 0.7 µm 1.7 µm 24 mm 300 g
M Plan Apo NIR 50X 0.42 17 mm 4 mm 0.7 µm 1.6 µm 24 mm 315 g
M Plan Apo NIR 50X RRHH 0.65 10 mm 4 mm 0.4 µm 0.7 µm 24 mm 450 g
Características principales
  • Imágenes SWIR en el área 900–1700 nm
  • Análisis no destructivo de materiales y componentes basados en silicio
  • Cuatro opciones de lentes de tubo para integraciones estándar y personalizadas
  • serie de lentes M Plan Apo NIR con resolución de hasta 0.4 µm
  • Iluminación Köhler de luz reflejada coaxial con fuentes de luz LED de 1550/1400/1300/1200 nm
  • Plataforma modular para ajustes de sensores, ópticas y automatización
  • Plan M dedicado Apo NIR rango objetivo de 5X a 50X HR
  • Resolución a nivel de micrones hasta 0.4 µm con 50X objetivo de recursos humanos
  • SWIR opciones de cámara desde 0.33 M a 5.0 M con TEC incorporado
  • Interfaz de cámara C estándar para integración de cámara SWIR
  • Estructura CNC de precisión con diseño antivibración
  • Plataforma escalable para personalización de sensores, longitudes de onda y automatización
Áreas de aplicación
Fabricación de semiconductores Ciencia de Materiales Pruebas industriales
Más información Manual del producto

DIC100 - Sistema de microscopio de contraste de interferencia diferencial

El sistema de microscopio DIC (Contraste de interferencia diferencial) utiliza el principio de interferencia polarizada de dos haces. El proceso es el...

Parámetros de objetivos de distancia de trabajo estándar (longitud parfocal de 45 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
DIC5XA 5X 0.15 23.5mm 39mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
DIC10XA 10X 0.3 22.8mm 20 mm 1.1 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
DIC20XA 20X 0.4 19.2mm 10 mm 0.8 µm 1.1mm 25 mm M26*0.705
DIC50XA 50X 0.55 11mm 4 mm 0.6 µm 0.44mm 25 mm M26*0.705
Parámetros de objetivos de gran distancia de trabajo (longitud parfocal de 60 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
DICL2XA 2X 0.055 33.7mm 100 mm 6.1 µm 12.5mm 25 mm M26*0.705
DICL5XA 5X 0.14 33.6mm 40 mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
DICL10XA 10X 0.28 33.4mm 20 mm 1.2 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
DICL20XA 20X 0.34 29.5mm 10 mm 0.8 µm 1.25mm 25 mm M26*0.705
DICL50XA 50X 0.5 18.9mm 4 mm 0.7 µm 0.5mm 25 mm M26*0.705
Características principales
  • Lentes de trabajo estándar o de larga distancia (opcional)
  • Canal de imagen: 1× (distancia focal del tubo 180 mm); Reductores personalizados disponibles
  • Canal de imagen – Tamaño del campo de imagen: 25 mm
  • Rango espectral de la ruta de imagen: 400–700 nm
  • Interfaz de cámara: C-Mount
  • Tipo de iluminación: iluminación Koehler
  • Iluminación: opcional 10 W Luz blanca/3 W Iluminación LED azul
Áreas de aplicación
Biología Celular Ciencia de Materiales Control de calidad Inspección de partículas
Más información Manual del producto

BMM100 - Sistema de microscopio metalográfico de campo claro

El microscopio metalográfico de campo claro se compone principalmente de sistemas de iluminación, imagen y mecánica. Es un instrumento óptico preciso ...

Parámetros de objetivos de distancia de trabajo estándar (longitud parfocal de 45 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
BF5XA 5X 0.15 23.5mm 39 mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
BF10XA 10X 0.3 22.8mm 20mm 1.1 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
BF20XA 20X 0.4 19.2mm 10mm 0.8 µm 1.1mm 25 mm M26*0.705
BF50XA 50X 0.55 11mm 4mm 0.6 µm 0.44mm 25 mm M26*0.705
Parámetros de objetivos de gran distancia de trabajo (longitud parfocal de 60 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
BFL2XA 2X 0.055 33.7mm 100 mm 6.1 µm 12.5mm 25 mm M26*0.705
BFL5XA 5X 0.14 33.6mm 40 mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
BFL10XA 10X 0.28 33.4mm 20 mm 1.2 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
BFL20XA 20X 0.34 29.5mm 10 mm 0.8 µm 1.25mm 25 mm M26*0.705
BFL50XA 50X 0.5 18.9mm 4 mm 0.7 µm 0.5mm 25 mm M26*0.705
Características principales
  • serie de lentes con distancia de trabajo estándar o larga (opcional)
  • Canal de imagen: 1× (distancia focal del tubo 180 mm); Reductores personalizados disponibles
  • Canal de imagen – Tamaño del campo de imagen: 25 mm
  • Canal de imagen – rango espectral: luz visible
  • Interfaz de cámara: C-Mount
  • Iluminación: Crítica o Köhler seleccionable
  • Iluminación: LED blanco/azul de 10 W
Áreas de aplicación
Ensayos de materiales metálicos Análisis metalúrgico Control de calidad industrial Pruebas de materiales no metálicos
Más información Manual del producto

PLM100 - Solución profesional de imágenes de luz polarizada

El microscopio de polarización se utiliza para examinar materiales anisotrópicos transparentes y opacos. Las sustancias con birrefringencia se pueden ...

Parámetros de objetivos de distancia de trabajo estándar (longitud parfocal de 45 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
POL2.5XA 2.5X 0.075 6.2mm 80 mm 4.46 µm 10 mm 25 mm M26*0.705
POL5XA 5X 0.15 23.5mm 39mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
POL10XA 10X 0.3 22.8mm 20 mm 1.1 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
POL20XA 20X 0.4 19.2mm 10 mm 0.8 µm 1.1mm 25 mm M26*0.705
POL50XA 50X 0.55 11mm 4 mm 0.6 µm 0.44mm 25 mm M26*0.705
Parámetros de objetivos de gran distancia de trabajo (longitud parfocal de 60 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
POLL2XA 2X 0.055 33.7mm 95 mm 6.1 µm 12.5mm 25 mm M26*0.705
POLL5XA 5X 0.14 33.6mm 40 mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
POLL10XA 10X 0.28 33.4mm 20 mm 1.2 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
POLL20XA 20X 0.34 29.5mm 10 mm 0.8 µm 1.25mm 25 mm M26*0.705
POLL50XA 50X 0.5 18.9mm 4 mm 0.7 µm 0.5mm 25 mm M26*0.705
Características principales
  • Lentes de trabajo estándar o de larga distancia (opcional)
  • Canal de imagen: 1× (distancia focal del tubo 180 mm); Reductores personalizados disponibles
  • Canal de imagen – Tamaño del campo de imagen: 25 mm
  • Canal de imagen – rango espectral: luz visible
  • Conexiones de cámara: C/M42/M52 y otras. seleccionable
  • Iluminación: Crítica o Köhler seleccionable
  • Iluminación: LED blanco/azul de 10 W
Áreas de aplicación
Investigación geológica Ciencia de Materiales Análisis de cristalografía Prueba de birrefringencia de voltaje
Más información Manual del producto

FM100 - Sistema de microscopio de fluorescencia

El microscopio de fluorescencia se utiliza para observar sustancias fluorescentes o fosforescentes. Utiliza luz de excitación de longitudes de onda (o...

Parámetros de objetivos de distancia de trabajo estándar (longitud parfocal de 45 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
BF5XA 5X 0.15 23.5mm 39mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
BF10XA 10X 0.3 22.8mm 20 mm 1.1 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
BF20XA 20X 0.4 19.2mm 10 mm 0.8 µm 1.1mm 25 mm M26*0.705
BF50XA 50X 0.55 11mm 4 mm 0.6 µm 0.44mm 25 mm M26*0.705
Parámetros de objetivos de gran distancia de trabajo (longitud parfocal de 60 mm)
Nombre del objetivo Aumento Apertura numérica Distancia de trabajo Distancia focal Resolución Campo de visión del objeto Campo de visión de imagen Tamaño de rosca
BFL2XA 2X 0.055 33.7mm 100 mm 6.1 µm 12.5mm 25 mm M26*0.705
BFL5XA 5X 0.14 33.6mm 40 mm 2.2 µm 5mm 25 mm M26*0.705
BFL10XA 10X 0.28 33.4mm 20 mm 1.2 µm 2.5mm 25 mm M26*0.705
BFL20XA 20X 0.34 29.5mm 10 mm 0.8 µm 1.25mm 25 mm M26*0.705
BFL50XA 50X 0.5 18.9mm 4 mm 0.7 µm 0.5mm 25 mm M26*0.705
Características principales
  • Lentes de trabajo estándar o de larga distancia (opcional)
  • Canal de imagen: 1× (distancia focal del tubo 180 mm); Reductores personalizados disponibles
  • Canal de imagen – Tamaño del campo de imagen: 25 mm
  • Canal de imagen – rango espectral: luz visible
  • Conexiones de cámara: C/M42/M52 y otras. seleccionable
  • Iluminación: Crítica o Köhler seleccionable
  • Iluminación: 3 W LED con 365 nm
  • Módulo de fluorescencia: filtro UV DAPI de banda única (Excitador 365 nm, Emisión 445 nm, Dicroico 405 nm), personalizable
Áreas de aplicación
Investigación Biomédica Detección de etiquetas fluorescentes Imágenes celulares Detección de agentes blanqueantes en la industria papelera
Más información Manual del producto

Características de los sistemas especiales de microscopía

  • Diseño especializado, optimizado para aplicaciones específicas
  • Componentes ópticos de alta calidad
  • Configuración modular, fácilmente ampliable
  • Adecuado para investigación e inspección industrial
  • Solución de sistema completa
Ayuda de selección
Tecnología de microscopía
Seleccione el método de microscopía adecuado según las propiedades de la muestra
Configuración de objetivos
Objetivos estándar o de gran distancia de trabajo para distintas necesidades
Sistema de iluminación
Iluminación Köhler o crítica seleccionable según la aplicación
Conexión de cámara
Compatible con C/M42/M52 y otras monturas

Los sistemas especiales de microscopía de ToupTek adoptan un diseño modular y ofrecen soluciones especializadas para distintos escenarios de aplicación, cubriendo las exigencias de la investigación y la inspección industrial.

Soluciones de configuración del sistema

Combinación flexible de módulos de hardware y software según los requisitos de aplicación

Dimensión Configuración clave Aspectos técnicos destacados Beneficios para el usuario
Hardware de imagen • Serie ToupCam X: BSI-CMOS IMX415/IMX571, hasta 45 MP, USB 3.0/HDMI 60 fps 4K
• Módulos portátiles HCAM/PUM: UVC Plug-and-Play con iluminación anular de 8 LED integrada 		• Bajo ruido de lectura y rango dinámico superior a 66 dB
• Escaneo lineal y Global Shutter opcional 		Reproducción cromática realista y alto contraste para AOI de alta velocidad, señales fluorescentes débiles y otros escenarios
Óptica de zoom • Serie MZO (0,25×–8×): relación de zoom 20×, NA 0,12 y distancia de trabajo de 174 mm
• ZOPE todo en uno: 8 LED integrados, cámara USB y zoom lineal parfocal 		Trayectos ópticos paralelos, MTF limitada por difracción y baja distorsión Zoom sin reenfoque, apto para muestras desde escala milimétrica hasta micrométrica
Sistema de iluminación • Iluminación anular LED TZM0756DRL de 65/85 mm: brillo PWM ajustable de forma continua
• Iluminación coaxial TZM0756CL con fuente de luz puntual
• AALRL-200: iluminación anular grande para un campo uniforme de 300 mm 		Luz compuesta multicanal, de polarización y coaxial; ángulo LED ajustable a 30° Reduce reflejos en soldaduras PCB, mejora la detección de rayas en obleas y facilita la inspección de películas transparentes
Plataforma mecánica • Soporte TPS-600 con ajuste grueso/fino y capacidad de carga de 5 kg
• Ajuste fino de precisión TPS-300 con paso de 2 µm
• Plataforma motorizada Z y XY opcional 		Aluminio aeronáutico anodizado clase II y husillo de bolas Posicionamiento estable 24×7, compatible con enfoque automático y escaneo en matriz
Software y algoritmos • ToupView: medición y anotación en tiempo real, síntesis de profundidad de campo, HDR y demodulación de polarización
• SDK/API: Windows/macOS/Linux/Android
• Módulo de IA: clasificación de defectos y evaluación de tolerancias dimensionales 		Desarrollo secundario e integración con PLC, robots y protocolos serie Integración rápida en sistemas de calidad MES/SPC, compatible con edge computing y sincronización en la nube

Ventajas del sistema

Cinco ventajas clave para construir una plataforma profesional de imagen microscópica

Ecosistema completo y entrega llave en mano

Cámara, objetivo, iluminación, soporte y software desde una sola fuente. Evita compras dispersas y el enfoque Plug-and-Play reduce el esfuerzo de integración hasta un 60 %.

Alta resolución con gran profundidad de campo

El sensor CMOS Ultra-HD de 45 MP y el algoritmo de síntesis de profundidad de campo generan imágenes nítidas a escala micrométrica en un campo de visión de 30 mm.

Imagen multiespectral y de baja iluminación

Compatible con combinaciones de luz blanca, infrarrojo cercano y polarización mediante iluminación coaxial y anular sincronizada; mantiene detalles de textura incluso a 0,05 lux.

Expansión flexible y protección de la inversión

La montura C estándar y los protocolos GigE Vision/USB3 Vision permiten futuras ampliaciones con módulos de IA, mesas automáticas y sincronización multicámara sin sustituir el cuerpo principal.

Casos de implementación en distintos sectores

  • Semiconductores: bumping, rayas y AOI de defectos en hilos de unión
  • FPC/PCB: altura de pasta de soldadura y detección de residuos en pads
  • Nuevas energías: tamaño de poro en separadores de ion-litio y uniformidad del recubrimiento de electrodos
  • Ciencias de la vida: cortes de tejido, entomología y observación de plantas vivas
  • Educación y formación: prácticas virtuales en cursos universitarios de materiales y programas STEAM

Casos de uso

Experiencias de implementación exitosas en múltiples sectores

Inspección de semiconductores

Inspección óptica automática de bumping, rayas y defectos en hilos de unión

Fabricación de semiconductores
Inspección de PCB

Detección de alta precisión de la altura de pasta de soldadura y residuos en pads

Control de calidad FPC/PCB
Inspección de materiales para nuevas energías

Análisis del tamaño de poro en separadores de ion-litio y de la uniformidad del recubrimiento de electrodos

Materiales para nuevas energías
Ciencias de la vida

Cortes de tejido y observación dinámica de células vivas

Investigación en ciencias de la vida