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Systèmes de microscopes spécialisés Systèmes professionnels d'imagerie microscopique

Produits

Systèmes de microscopes professionnels pour applications spécialisées, notamment SWIR, contraste interférentiel différentiel, métallographie sur fond clair, fluorescence et polarisation.

Caractéristiques principales

  • Conception spécialisée, optimisée pour des applications spécifiques
  • Composants optiques de haute qualité
  • Configuration modulaire, facilement extensible
  • Convient pour la recherche et l'inspection industrielle
  • Solution système complète
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Trouvez rapidement le système de microscopie adapté à vos exigences d'application

Systèmes de microscopes spécialisés

Systèmes de microscopes professionnels pour applications spécialisées, notamment SWIR, contraste interférentiel différentiel, métallographie sur fond clair, fluorescence et polarisation.

BSM - Système de microscope infrarouge à ondes courtes

La série BSM est un système de microscope modulaire pour l'infrarouge à ondes courtes (SWIR) avec une plage spectrale de 900–1700 nm. Il combine un éc...

Paramètres des objectifs M Plan Apo NIR
Nom de l'objectif Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Profondeur de champ FN Poids
Plan M Apo NIR 5X 0.14 37.5 mm 40 mm 2.0 µm 14 µm 24 mm 220 g
Plan M Apo NIR 10X 0.26 30.5 mm 20 mm 1.1 µm 4.1 µm 24 mm 250 g
Plan M Apo NIR 20X 0.4 20 mm 10 mm 0.7 µm 1.7 µm 24 mm 300 g
Plan M Apo NIR 50X 0.42 17 mm 4 mm 0.7 µm 1.6 µm 24 mm 315 g
Plan M Apo NIR 50X RH 0.65 10 mm 4 mm 0.4 µm 0.7 µm 24 mm 450 g
Caractéristiques principales
  • Imagerie SWIR dans la zone 900–1700 nm
  • Analyse non destructive des matériaux et composants à base de silicium
  • Quatre options de lentilles tubulaires pour des intégrations standard et personnalisées
  • Série d'objectifs M Plan Apo NIR avec une résolution allant jusqu'à 0.4 µm
  • Éclairage Köhler coaxial à lumière réfléchie avec sources lumineuses LED de 1550/1400/1300/1200 nm
  • Plateforme modulaire pour les réglages de capteurs, d'optiques et d'automatisation
  • Plan M dédié Apo NIR plage d'objectifs de 5X à 50X HR
  • Résolution au niveau du micron jusqu'à 0.4 µm avec 50X objectif RH
  • SWIR options de caméra de 0.33 MP à 5.0 MP avec TEC intégré
  • Interface de caméra standard C pour l'intégration de caméra SWIR
  • Structure CNC de précision avec conception antivibration
  • Plateforme évolutive pour la personnalisation des capteurs, des longueurs d'onde et de l'automatisation
Domaines d'application
Fabrication de semi-conducteurs Science des matériaux Essais industriels
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DIC100 - Système de microscope à contraste et interférence différentielle

Le système de microscope DIC (Differential Interference Contrast) utilise le principe de l'interférence polarisée à deux faisceaux. Le processus est l...

Paramètres des objectifs à distance de travail standard (longueur parfocale de 45 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
DIC5XA 5X 0.15 23.5 mm 39 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
DIC10XA 10X 0.3 22.8 mm 20 mm 1.1 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
DIC20XA 20X 0.4 19.2 mm 10 mm 0.8 µm 1.1 mm 25 mm M26*0.705
DIC50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0.6 µm 0.44 mm 25 mm M26*0.705
Paramètres des objectifs à grande distance de travail (longueur parfocale de 60 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
DICL2XA 2X 0.055 33.7 mm 100 mm 6.1 µm 12.5 mm 25 mm M26*0.705
DICL5XA 5X 0.14 33.6 mm 40 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
DICL10XA 10X 0.28 33.4 mm 20 mm 1.2 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
DICL20XA 20X 0.34 29.5 mm 10 mm 0.8 µm 1.25 mm 25 mm M26*0.705
DICL50XA 50X 0.5 18.9 mm 4 mm 0.7 µm 0.5 mm 25 mm M26*0.705
Caractéristiques principales
  • Objectifs standards ou longue distance de travail (en option)
  • Canal d'image : 1× (distance focale du tube 180 mm) ; Réducteurs personnalisés disponibles
  • Canal d'image – Taille du champ d'image : 25 mm
  • Plage spectrale du trajet d'imagerie : 400–700 nm
  • Interface caméra : C-Mount
  • Type d'éclairage : éclairage Koehler
  • Éclairage : en option 10 W Lumière blanche/3 W Éclairage LED bleu
Domaines d'application
Biologie cellulaire Science des matériaux Contrôle qualité Inspection des particules
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BMM100 - Système de microscope métallographique en champ clair

Le microscope métallographique en champ clair se compose principalement de systèmes d'éclairage, d'imagerie et de mécanique. C'est un instrument optiq...

Paramètres des objectifs à distance de travail standard (longueur parfocale de 45 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
BF5XA 5X 0.15 23.5 mm 39 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
BF10XA 10X 0.3 22.8 mm 20 mm 1.1 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
BF20XA 20X 0.4 19.2 mm 10 mm 0.8 µm 1.1 mm 25 mm M26*0.705
BF50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0.6 µm 0.44 mm 25 mm M26*0.705
Paramètres des objectifs à grande distance de travail (longueur parfocale de 60 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
BFL2XA 2X 0.055 33.7 mm 100 mm 6.1 µm 12.5 mm 25 mm M26*0.705
BFL5XA 5X 0.14 33.6 mm 40 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
BFL10XA 10X 0.28 33.4 mm 20 mm 1.2 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
BFL20XA 20X 0.34 29.5 mm 10 mm 0.8 µm 1.25 mm 25 mm M26*0.705
BFL50XA 50X 0.5 18.9 mm 4 mm 0.7 µm 0.5 mm 25 mm M26*0.705
Caractéristiques principales
  • Série d'objectifs avec distance de travail standard ou longue (en option)
  • Canal d'image : 1× (distance focale du tube 180 mm) ; Réducteurs personnalisés disponibles
  • Canal d'image – Taille du champ d'image : 25 mm
  • Canal image – plage spectrale : lumière visible
  • Interface caméra : C-Mount
  • Éclairage : Critique ou Köhler sélectionnable
  • Éclairage : LED blanche/bleue 10 W
Domaines d'application
Tests de matériaux métalliques Analyse métallurgique Contrôle qualité industriel Tests de matériaux non métalliques
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PLM100 - Solution professionnelle d'imagerie à lumière polarisée

Le microscope à polarisation est utilisé pour examiner les matériaux anisotropes transparents et opaques. Les substances biréfringentes peuvent être c...

Paramètres des objectifs à distance de travail standard (longueur parfocale de 45 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
POL2.5XA 2.5X 0.075 6.2 mm 80 mm 4.46 µm 10 mm 25 mm M26*0.705
POL5XA 5X 0.15 23.5 mm 39 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
POL10XA 10X 0.3 22.8 mm 20 mm 1.1 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
POL20XA 20X 0.4 19.2 mm 10 mm 0.8 µm 1.1 mm 25 mm M26*0.705
POL50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0.6 µm 0.44 mm 25 mm M26*0.705
Paramètres des objectifs à grande distance de travail (longueur parfocale de 60 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
POLL2XA 2X 0.055 33.7 mm 95 mm 6.1 µm 12.5 mm 25 mm M26*0.705
POLL5XA 5X 0.14 33.6 mm 40 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
POLL10XA 10X 0.28 33.4 mm 20 mm 1.2 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
POLL20XA 20X 0.34 29.5 mm 10 mm 0.8 µm 1.25 mm 25 mm M26*0.705
POLL50XA 50X 0.5 18.9 mm 4 mm 0.7 µm 0.5 mm 25 mm M26*0.705
Caractéristiques principales
  • Objectifs standards ou longue distance de travail (en option)
  • Canal d'image : 1× (distance focale du tube 180 mm) ; Réducteurs personnalisés disponibles
  • Canal d'image – Taille du champ d'image : 25 mm
  • Canal image – plage spectrale : lumière visible
  • Connexions caméra : C/M42/M52 et autres. sélectionnable
  • Éclairage : Critique ou Köhler sélectionnable
  • Éclairage : LED blanche/bleue 10 W
Domaines d'application
Recherche géologique Science des matériaux Analyse cristallographique Test de biréfringence de tension
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FM100 - Système de microscope à fluorescence

Le microscope à fluorescence permet d'observer des substances fluorescentes ou phosphorescentes. Il utilise une lumière d’excitation de longueurs d’on...

Paramètres des objectifs à distance de travail standard (longueur parfocale de 45 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
BF5XA 5X 0.15 23.5 mm 39 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
BF10XA 10X 0.3 22.8 mm 20 mm 1.1 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
BF20XA 20X 0.4 19.2 mm 10 mm 0.8 µm 1.1 mm 25 mm M26*0.705
BF50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0.6 µm 0.44 mm 25 mm M26*0.705
Paramètres des objectifs à grande distance de travail (longueur parfocale de 60 mm)
Nom de l'objectif Grossissement Ouverture numérique Distance de travail Distance focale Résolution Champ de vision objet Champ de vision image Taille du filetage
BFL2XA 2X 0.055 33.7 mm 100 mm 6.1 µm 12.5 mm 25 mm M26*0.705
BFL5XA 5X 0.14 33.6 mm 40 mm 2.2 µm 5 mm 25 mm M26*0.705
BFL10XA 10X 0.28 33.4 mm 20 mm 1.2 µm 2.5 mm 25 mm M26*0.705
BFL20XA 20X 0.34 29.5 mm 10 mm 0.8 µm 1.25 mm 25 mm M26*0.705
BFL50XA 50X 0.5 18.9 mm 4 mm 0.7 µm 0.5 mm 25 mm M26*0.705
Caractéristiques principales
  • Objectifs standards ou longue distance de travail (en option)
  • Canal d'image : 1× (distance focale du tube 180 mm) ; Réducteurs personnalisés disponibles
  • Canal d'image – Taille du champ d'image : 25 mm
  • Canal image – plage spectrale : lumière visible
  • Connexions caméra : C/M42/M52 et autres. sélectionnable
  • Éclairage : Critique ou Köhler sélectionnable
  • Éclairage : 3 W LED avec 365 nm
  • Module de fluorescence : filtre UV mono-bande DAPI (Exciter 365 nm, Emission 445 nm, Dichroïque 405 nm), personnalisable
Domaines d'application
Recherche biomédicale Détection d'étiquettes fluorescentes Imagerie cellulaire Détection d'agents de blanchiment dans l'industrie papetière
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Caractéristiques des systèmes spéciaux de microscopie

  • Conception spécialisée, optimisée pour des applications spécifiques
  • Composants optiques de haute qualité
  • Configuration modulaire, facilement extensible
  • Convient pour la recherche et l'inspection industrielle
  • Solution système complète
Aide à la sélection
Technologie de microscopie
Sélectionnez la méthode de microscopie adaptée aux propriétés de l'échantillon
Configuration des objectifs
Objectifs standard ou à grande distance de travail selon les besoins
Système d'éclairage
Éclairage de Köhler ou éclairage critique selon l'application
Connexion caméra
Compatible avec C/M42/M52 et d'autres montures

Les systèmes spéciaux de microscopie ToupTek reposent sur une conception modulaire et fournissent des solutions spécialisées pour différents scénarios d'application, afin de répondre aux exigences de la recherche et de l'inspection industrielle.

Solutions de configuration du système

Combinaison flexible de modules matériels et logiciels selon les exigences d'application

Dimension Configuration clé Points techniques forts Avantages utilisateur
Matériel d'imagerie • Série ToupCam X : BSI-CMOS IMX415/IMX571, jusqu'à 45 MP, USB 3.0/HDMI 60 fps 4K
• Modules portables HCAM/PUM : UVC Plug-and-Play avec éclairage annulaire 8 LED intégré 		• Faible bruit de lecture et plage dynamique supérieure à 66 dB
• Balayage linéaire et Global Shutter en option 		Rendu des couleurs réaliste et contraste élevé pour l'AOI haute vitesse, les signaux fluorescents faibles et d'autres scénarios
Optique de zoom • Série MZO (0,25×–8×) : rapport de zoom 20×, NA 0,12 et distance de travail de 174 mm
• ZOPE tout-en-un : 8 LED intégrées, caméra USB et zoom linéaire parfocal 		Trajets optiques parallèles, MTF limitée par la diffraction et faible distorsion Zoom sans remise au point, adapté aux échantillons de l'échelle millimétrique à micrométrique
Système d'éclairage • Éclairage annulaire LED TZM0756DRL 65/85 mm : luminosité PWM réglable en continu
• Éclairage coaxial TZM0756CL avec source ponctuelle
• AALRL-200 : grand éclairage annulaire pour un champ uniforme de 300 mm 		Lumière composite multicanal, polarisée et coaxiale ; angle LED réglable à 30° Réduit les reflets de soudures PCB, améliore la détection de rayures sur wafers et facilite l'inspection de films transparents
Plateforme mécanique • Support TPS-600 avec réglage grossier/fin et capacité de charge de 5 kg
• Réglage fin de précision TPS-300 avec pas de 2 µm
• Plateforme motorisée Z et XY en option 		Aluminium aéronautique anodisé classe II et vis à billes Positionnement stable 24×7, compatible avec l'autofocus et le balayage matriciel
Logiciel et algorithmes • ToupView : mesure et annotation en temps réel, synthèse de profondeur de champ, HDR et démodulation de polarisation
• SDK/API: Windows/macOS/Linux/Android
• Module IA : classification des défauts et évaluation des tolérances dimensionnelles 		Développement secondaire et intégration avec PLC, robots et protocoles série Intégration rapide aux systèmes qualité MES/SPC, compatible avec l'edge computing et la synchronisation cloud

Avantages du système

Cinq avantages clés pour créer une plateforme professionnelle d'imagerie microscopique

Écosystème complet et livraison clé en main

Caméra, objectif, éclairage, support et logiciel depuis une seule source. L'approche Plug-and-Play évite les achats dispersés et réduit l'effort d'intégration jusqu'à 60 %.

Haute résolution avec grande profondeur de champ

Le capteur CMOS Ultra-HD 45 MP et l'algorithme de synthèse de profondeur de champ produisent des images nettes à l'échelle micrométrique dans un champ de 30 mm.

Multispektral & Imagerie faible luminosité

Compatible avec les combinaisons lumière blanche, proche infrarouge et polarisation via un éclairage coaxial et annulaire synchronisé ; conserve les détails de texture même à 0,05 lux.

Extension flexible et protection de l'investissement

La monture C standard et les protocoles GigE Vision/USB3 Vision permettent d'ajouter ultérieurement des modules IA, des platines automatiques et une synchronisation multicaméra sans remplacer le corps principal.

Cas de déploiement dans plusieurs secteurs

  • Semi-conducteurs : bumping, rayures et AOI des défauts de fils de bonding
  • FPC/PCB : hauteur de pâte à braser et détection de résidus sur pads
  • Nouvelles énergies : taille des pores des séparateurs Li-ion et uniformité du revêtement d'électrode
  • Sciences de la vie : coupes de tissus, entomologie et observation de plantes vivantes
  • Éducation et formation : travaux pratiques virtuels en matériaux et programmes STEAM

Cas d'utilisation

Expériences de déploiement réussies dans plusieurs secteurs

Inspection des semi-conducteurs

Inspection optique automatique du bumping, des rayures et des défauts de fils de bonding

Fabrication de semi-conducteurs
Inspection PCB

Détection haute précision de la hauteur de pâte à braser et des résidus sur pads

Contrôle qualité FPC/PCB
Inspection de matériaux pour nouvelles énergies

Analyse de la taille des pores des séparateurs Li-ion et de l'uniformité du revêtement d'électrode

Matériaux pour nouvelles énergies
Sciences de la vie

Coupes de tissus et observation dynamique de cellules vivantes

Recherche en sciences de la vie