SWIR2048L3B-CL80K SWIR 카메라

제품 소개

SWIR2048L3B-CL80K는 중국산 InGaAs 센서를 사용한 2048픽셀 SWIR 라인 스캔 카메라입니다. 900–1700 nm 범위, 12.5 µm × 250 µm 픽셀, CameraLink Full, 14-bit ADC, 79K @ 2048 × 1 출력, 주변 온도보다 최대 40 °C 낮은 냉각을 지원합니다.

주요 특징

  • 중국산 2048픽셀 InGaAs 라인 스캔 센서
  • 12.5 µm × 250 µm 픽셀 크기
  • 900–1700 nm 스펙트럼 응답
  • 79K @ 2048 × 1 라인 스캔 출력
  • 14-bit ADC 및 512 MByte 메모리
  • 70% 양자 효율 @ 1550 nm
  • CameraLink Full 인터페이스
  • 글로벌 셔터
  • 주변 온도보다 최대 40 °C 낮은 냉각
  • M42 렌즈 마운트

제품 상세

기술 데이터
모델 SWIR2048L3B-CL80K
센서 중국산 2048픽셀 라인 스캔 센서
센서 유형 InGaAs 단파 적외선(SWIR) 라인 스캔 이미지 센서
셔터 방식 글로벌 셔터
컬러 유형 모노크롬
해상도 2048 pixels (2048 × 1)
유효 라인 길이 25.6 mm
픽셀 크기 12.5 µm × 250 µm
스펙트럼 범위 900–1700 nm
성능 데이터
라인 레이트 79K @ 2048 × 1
ADC 14 bit
비트 심도 14-bit
메모리 512 MByte
양자 효율 70% @ 1550 nm
동적 범위 -
인터페이스
GPIO 포토커플러 절연 입력 1개, 포토커플러 절연 출력 1개
렌즈 마운트 M42
데이터 인터페이스 CameraLink Full
데이터 형식 Mono 14
전원 DC 12 V
환경 조건
작동 온도 작동 온도: -40 °C ~ 70 °C
작동 습도 20% ~ 80%, 비응축
보관 온도 보관 온도: -40 °C ~ 70 °C
기타 파라미터
냉각 능력 주변 온도보다 40 °C 낮은 냉각
Software Delsa 프레임 그래버 기반 CLView 소프트웨어 및 SDK 개발 키트

제품

SWIR2048L3B-CL80K중국산 2048픽셀 라인 스캔 센서를 탑재한 냉각 SWIR 라인스캔 카메라로, 900–1700 nm 범위에서 정밀한 라인 획득을 위해 설계되었습니다.

  • 연속 공정을 위한 라인스캔: 12.5 µm × 250 µm의 2048 pixels (2048 × 1)로 웹 소재, 롤투롤 공정 및 동기 라인 검사를 지원합니다.
  • SWIR 감도: 900–1700 nm의 스펙트럼 범위를 제공하여 재료 분리, 수분 분석, 레이저 정렬 및 NIR/SWIR 공정 모니터링에 적합합니다.
  • 높은 라인 레이트: 14-bit에서 최대 79K @ 2048 × 1를 지원하여 빠르고 세밀한 라인 획득이 가능합니다.
  • 안정적인 데이터 체인: CameraLink Full, Mono 14 및 512 MByte 버퍼 메모리가 견고한 고속 통합을 지원합니다.
  • 제어 냉각: 주변 온도보다 40 °C 낮은 냉각의 TE 냉각으로 긴 라인 시퀀스와 까다로운 산업 환경에서 열 영향을 줄입니다.
  • 시스템 통합: M42, 광절연 I/O 및 Delsa 프레임 그래버 기반 CLView 소프트웨어 및 SDK 개발 키트를 통해 라인스캔 시스템에 쉽게 통합할 수 있습니다.

핵심 성능 데이터

라인 레이트

최대 79K @ 2048 × 1

라인 해상도

2048 pixels (2048 × 1)

동적 범위

-

요약

SWIR2048L3B-CL80K은 높은 라인 레이트, 안정적인 CameraLink 전송, 재현성 있는 냉각 성능이 중요한 산업용 SWIR 라인스캔 작업을 위해 설계되었습니다.

SWIR2048L3B-CL80K 제품 브로셔

기술 데이터, 통합 참고 사항 및 치수 정보가 포함된 PDF입니다.


SDK 및 CLView 패키지

CameraLink 프레임 그래버 및 라인스캔 응용 분야와의 통합용입니다.


3D 모델

라인스캔 시스템의 기계적 통합을 위한 STEP 형식입니다.

시리즈 주요 특징#

고속 라인 스캔 검사, SWIR 감도, 안정적인 CameraLink 통합 중심 설계

1024/2048픽셀 라인 스캔

이 시리즈는 연속 이동 검사 및 인라인 생산 시스템을 위한 38K @ 1024 × 1 및 79K @ 2048 × 1 모델을 포함합니다.

SWIR 재료 식별

900–1700 nm 응답 대역은 수분 분석, 재료 분류, 실리콘 검사 및 SWIR 인식 작업에 적합합니다.

산업 통합

CameraLink Full, 절연 트리거 I/O, M42 마운트, SDK 및 CLView는 라인 스캔 검사 시스템 통합을 단순화합니다.

자주 묻는 질문

단파 적외선(SWIR) 카메라에 대한 전문 지식을 확인하세요

전자기 스펙트럼 개략도: 자외선 200–380 nm, 가시광 380–750 nm, 근적외선 750–1100 nm, 단파 적외선 1100–2500 nm, 장파 적외선 8000–14000 nm
단파 적외선(SWIR) 카메라는 약 400–1700 nm 스펙트럼 범위에서 작동하는 전문 이미징 시스템입니다. 가시광을 넘어서는 이미지 정보를 제공하며 열화상 카메라(LWIR)와는 다른 특성을 가집니다. 재료, 구조, 세부 분석에 높은 요구가 있는 응용 분야에 사용됩니다.

SWIR 카메라는 산업 검사, 머신 비전, 재료 선별, 식품 검사, 과학 연구, 의료 진단, 보안 감시, 공정 제어, 운송 등 다양한 분야에서 사용됩니다. 특히 재료 분석, 수분 측정, 안개나 연기 투과, 야간 감시에 강점을 보입니다.

예. SWIR 카메라는 특수 플라스틱이나 실리콘 웨이퍼처럼 가시광에서 불투명한 일부 재료를 투과할 수 있습니다. 이는 반도체 검사와 재료 평가 분야에서 특히 유용합니다.

SWIR 카메라는 주로 단파 적외선 영역의 반사광 또는 방출광을 포착합니다. 반면 열화상 카메라(LWIR)는 물체의 열복사를 기반으로 합니다. 따라서 SWIR 시스템은 단순한 온도 변화보다 구조 및 재료 분석에 더 적합합니다.

많은 경우 가능합니다. SWIR 대역에서의 반사와 투과 차이를 통해 가시광에서는 거의 구분하기 어려운 물체나 성분을 식별할 수 있습니다. 따라서 SWIR 카메라는 보안 검사, 산업 선별, 검사 공정에 자주 사용됩니다.

SWIR 카메라 상세

SWIR 카메라와 핵심 유닛, 센서는 현대 이미징 시스템의 중요한 구성 요소입니다. SWIR 기술은 900–1700 nm 범위를 포괄하며 거친 환경에서도 강한 투과 능력을 제공합니다. 안개, 연기, 먼지를 투과해 극한 조건에서도 선명한 이미지를 제공합니다.

SWIR 솔루션은 가시 스펙트럼과 유사하게 단파 적외선 영역의 반사광을 주로 활용합니다. 열 방출에 초점을 둔 열화상 시스템(LWIR)을 보완하며 더 포괄적인 이미징 솔루션을 제공합니다. 콤팩트한 구조 덕분에 SWIR 카메라는 산업 및 상업 시스템에 유연하게 통합할 수 있습니다.

높은 해상도와 감도 덕분에 SWIR 카메라는 정밀 검사와 까다로운 응용 분야에 적합합니다. 미세한 편차와 결함을 감지할 수 있어 품질 보증에 이상적입니다. 일부 모델은 냉각 기능을 갖춰 고온 또는 노이즈가 많은 환경에서도 안정적인 화질을 유지합니다.

시스템 비용을 낮추고 통합을 쉽게 하기 위해 최신 SWIR 카메라는 표준화된 광학 인터페이스와 콤팩트한 설계를 사용합니다. 이미징 시장이 발전하면서 SWIR은 고성능 이미지 및 센서 시스템의 핵심 기술로 자리 잡았습니다.

응용 사례

SWIR 카메라의 실제 적용 사례와 결과

기타 산업 적용 사례

  • 반도체 산업: 태양전지와 칩 검사
  • 농업: 멀티로터 플랫폼 기반 스펙트럼 원격 탐사
  • 재활용 산업: 플라스틱, 폐기물 및 기타 재료 선별
  • 의료 이미징 및 연구: 초분광 및 다중 스펙트럼 분석
  • 식품 산업: 품질 검사 및 분류
  • 음료 산업: 불투명 용기 내 레벨 감지
  • 포장: 실링 부위 검사
  • 유리 산업: 고온 유리의 결함 검사
  • 인쇄 산업: 숨겨진 보안 특징 시각화
  • 영상 감시: 연기 너머의 가시성 향상 등
  • 보안: 지폐, 가발, 인공 피부 등 위조품 검출