SWIR1302KMB-CXP SWIR 카메라

제품 소개

SWIR1302KMB-CXP는 중국산 InGaAs 센서와 CoaXPress 고속 인터페이스를 갖춘 1.3 메가픽셀 SWIR 카메라입니다. 실온 이하 40 °C까지 TEC 극저온 냉각, 15 µm 대형 픽셀 및 100 fps @ 1280×1024를 통해 반도체 검사 및 연구 이미징과 같은 까다로운 응용 분야에 높은 감도와 우수한 이미지 품질을 제공합니다.

주요 특징

1280×중국산 1024 InGaAs CMOS 센서
1,3 MP 고해상도(1280×1024)
15 µm 대형 픽셀, 고감도
분광 감도 900–1700 nm
CoaXPress 고속 인터페이스, 100 fps 전체 해상도
TEC 심냉각, 실온보다 40 °C 낮은 온도

14비트 ADC, 높은 동적 범위 69,2 dB
글로벌 셔터, 모션 왜곡 없음
광절연 입력/출력 1개
DC 12 V 또는 CoaXPress 전원 공급 장치 지원
M42 렌즈 마운트
CE/FCC 인증

견적 문의

제품 상세 정보

기술 데이터
모델	SWIR1302KMB-CXP
센서	중국산 1280×1024 (InGaAs CMOS)
셔터 방식	글로벌 셔터
컬러 유형	흑백
해상도	1.3 MP (1280×1024)
센서 크기	19.2 mm × 15.36 mm
센서 대각선	1.5" (24.59 mm)
픽셀 크기	15 µm × 15 µm
스펙트럼 범위	900–1700 nm
성능 데이터
프레임 레이트	100 fps @ 1280×1024
비트 깊이	14-bit
동적 범위	69.2 dB (LG), 63.2 dB (MG), 57.4 dB (HG) *1 (참고용)
감도	TBD
인터페이스
GPIO	포토커플러 절연 입력 1개, 포토커플러 절연 출력 1개, 비절연 I/O 포트 2개
렌즈 마운트	M42
데이터 인터페이스	CoaXPress 2.0 (CXP-10 x 1)
전원	전원 공급: CoaXPress 인터페이스 / 12 V 전원 어댑터
기계 데이터
치수	68 mm × 68 mm × 89.8 mm
중량	528.7 g
환경 조건
작동 온도	-30 °C ~ +60 °C
작동 습도	20%~80% (결로 없음)
보관 온도	-40 °C ~ +85 °C
보관 습도	20%~80% (결로 없음)
기타 파라미터
운영체제	SDK 개발 패키지 사용 가능
인증	CE, FCC

제품

SWIR1302KMB-CXP은(는) 단파 적외선(SWIR) 산업용 카메라로, 고성능 InGaAs CMOS 센서 중국산 1280×1024 (InGaAs CMOS)를 탑재하고 다음과 같은 특징을 제공합니다:

넓은 스펙트럼 감도: 가시광에서 SWIR까지 커버하며 400–1700 nm 스펙트럼 범위 달성.
고해상도 이미징: 1.3 MP (1280×1024) 해상도와 15 µm × 15 µm 픽셀 크기로 최대 100 fps @ 1280×1024 에서의 출력 14-bit.
Globaler Shutter: 글로벌 셔터 빠른 장면에서 이미지 왜곡 방지.
다양한 인터페이스: CoaXPress 2.0 (CXP-10 x 1) 연결, M42 렌즈 마운트 호환, ROI/트리거/비닝 제어 지원.
컴팩트 설계: 크기 68 mm × 68 mm × 89.8 mm, 중량 약 528.7 g로 산업용 통합에 적합합니다.
포괄적인 플랫폼 지원: SDK 개발 패키지 사용 가능를 지원하며 SDK와 ToupView 소프트웨어를 제공하고 CE, FCC 인증을 충족합니다.

핵심 성능 데이터

프레임 레이트

최대 100 fps @ 1280×1024

해상도

1.3 MP (1280×1024)

동적 범위

69.2 dB (LG), 63.2 dB (MG), 57.4 dB (HG) *1 (참고용)

요약

SWIR1302KMB-CXP 카메라는 우수한 화질, 안정적인 온도 관리, 유연한 통합 옵션을 제공해 까다로운 산업 및 과학 응용 환경에 적합합니다.

SWIR1302KMB-CXP 제품 브로셔

상세 기술 데이터와 치수 도면이 포함된 PDF 형식.

매뉴얼 다운로드

SDK 패키지

Windows, Linux, macOS 및 기타 플랫폼을 지원합니다.

SDK 요청

3D 모델

기계 설계 통합을 위한 STEP 형식.

3D 파일 다운로드

양자 효율 곡선 #

중국산 InGaAs 900–1700 nm의 대표적인 양자 효율

중국산 InGaAs 900–1700 nm QE 곡선 도표 — 중국산 InGaAs 900–1700 nm의 대표적인 QE 곡선으로, 선택 참고용입니다.

패키지 구성#

모델 SWIR1302KMB-CXP의 패키지 구성(CXP 냉각)

A 3-A 보호 케이스: L 28 cm × W 23.0 cm × H 15.5 cm(1개, 2.8 kg/박스)
B SWIR 900–1700 CoaXPress 인터페이스 카메라(냉각)
C CoaXPress 케이블 ×1(Micro-BNC, 옵션)
D 12 V / 3 A 6핀 항공 커넥터 전원 어댑터
E 전원 케이블
F 외부 트리거 제어 케이블 ×1

CoaXPress 패키지 구성(냉각)

제품 치수 #

모델 SWIR1302KMB-CXP의 치수(CoaXPress 인터페이스(냉각))

CoaXPress 인터페이스(냉각)

냉각 치수 도면

자주 묻는 질문

단파 적외선(SWIR) 카메라에 대한 전문 지식을 확인하세요

전자기 스펙트럼 개략도: 자외선 200–380 nm, 가시광 380–750 nm, 근적외선 750–1100 nm, 단파 적외선 1100–2500 nm, 장파 적외선 8000–14000 nm

단파 적외선(SWIR) 카메라는 약 400–1700 nm 스펙트럼 범위에서 작동하는 전문 이미징 시스템입니다. 가시광을 넘어서는 이미지 정보를 제공하며 열화상 카메라(LWIR)와는 다른 특성을 가집니다. 재료, 구조, 세부 분석에 높은 요구가 있는 응용 분야에 사용됩니다.

SWIR 카메라는 산업 검사, 머신 비전, 재료 선별, 식품 검사, 과학 연구, 의료 진단, 보안 감시, 공정 제어, 운송 등 다양한 분야에서 사용됩니다. 특히 재료 분석, 수분 측정, 안개나 연기 투과, 야간 감시에 강점을 보입니다.

예. SWIR 카메라는 특수 플라스틱이나 실리콘 웨이퍼처럼 가시광에서 불투명한 일부 재료를 투과할 수 있습니다. 이는 반도체 검사와 재료 평가 분야에서 특히 유용합니다.

SWIR 카메라는 주로 단파 적외선 영역의 반사광 또는 방출광을 포착합니다. 반면 열화상 카메라(LWIR)는 물체의 열복사를 기반으로 합니다. 따라서 SWIR 시스템은 단순한 온도 변화보다 구조 및 재료 분석에 더 적합합니다.

많은 경우 가능합니다. SWIR 대역에서의 반사와 투과 차이를 통해 가시광에서는 거의 구분하기 어려운 물체나 성분을 식별할 수 있습니다. 따라서 SWIR 카메라는 보안 검사, 산업 선별, 검사 공정에 자주 사용됩니다.

SWIR 카메라 상세

SWIR 카메라와 핵심 유닛, 센서는 현대 이미징 시스템의 중요한 구성 요소입니다. SWIR 기술은 900–1700 nm 범위를 포괄하며 거친 환경에서도 강한 투과 능력을 제공합니다. 안개, 연기, 먼지를 투과해 극한 조건에서도 선명한 이미지를 제공합니다.

SWIR 솔루션은 가시 스펙트럼과 유사하게 단파 적외선 영역의 반사광을 주로 활용합니다. 열 방출에 초점을 둔 열화상 시스템(LWIR)을 보완하며 더 포괄적인 이미징 솔루션을 제공합니다. 콤팩트한 구조 덕분에 SWIR 카메라는 산업 및 상업 시스템에 유연하게 통합할 수 있습니다.

높은 해상도와 감도 덕분에 SWIR 카메라는 정밀 검사와 까다로운 응용 분야에 적합합니다. 미세한 편차와 결함을 감지할 수 있어 품질 보증에 이상적입니다. 일부 모델은 냉각 기능을 갖춰 고온 또는 노이즈가 많은 환경에서도 안정적인 화질을 유지합니다.

시스템 비용을 낮추고 통합을 쉽게 하기 위해 최신 SWIR 카메라는 표준화된 광학 인터페이스와 콤팩트한 설계를 사용합니다. 이미징 시장이 발전하면서 SWIR은 고성능 이미지 및 센서 시스템의 핵심 기술로 자리 잡았습니다.