lentes de la serie UV
Presentación del producto
lentes de la serie UV es una serie de objetivos de imagen profesional desarrollada para la banda de longitudes de onda UV (200-1000nm), y ampliamente utilizada en Inspección UV, Excitación de fluorescencia, Análisis de materiales y otros campos.
Características del producto
- Cobertura multiespectral: luz visible, SWIR, UV
- Diseño de alta resolución, admite sensores de alto número de píxeles
- Excelente rendimiento óptico
- Calidad industrial, estable y confiable.
- Montaje C estándar, alta compatibilidad
Presentación de las series de objetivos multiespectrales de visión industrial
Soluciones profesionales de imagen para luz visible, SWIR y UV
Plataforma óptica unificada para imagen multiespectral
La serie de objetivos multiespectrales de visión industrial de ToupTek cubre las necesidades de imagen en luz visible (VIS), infrarrojo de onda corta (SWIR, 900–1700 nm) y UV (200–400 nm), ofreciendo una plataforma óptica unificada para inspección industrial, investigación científica, semiconductores y sistemas de visión industrial de alta gama.
Los objetivos emplean vidrio especial, diseño óptico corregido en color y recubrimientos de banda ancha para cubrir varias bandas de longitud de onda en un único sistema óptico, manteniendo la consistencia de imagen y bajas aberraciones. Compatibles con C-Mount, F-Mount y monturas personalizadas, satisfacen las exigencias multiespectrales de cámaras industriales y de investigación de alta resolución.
Análisis técnico detallado
Diseño óptico profesional para imagen multiespectral de alta precisión
Adaptabilidad de amplio espectro
- Un solo objetivo puede cubrir luz visible, SWIR (900–1700 nm) y UV (200–400 nm), reduciendo los costes de cambio de sistema
- El vidrio óptico especial corregido en color reduce eficazmente las aberraciones y desplazamientos de imagen entre longitudes de onda, garantizando consistencia del centro al borde de la imagen
Procesamiento óptico profesional
- El recubrimiento antirreflejo de banda ancha (BBAR) optimiza la transmisión, reduce reflejos y mejora la relación señal/ruido
- Los elementos ópticos utilizan vidrio de bajo coeficiente de dilatación térmica y carcasa metálica, asegurando estabilidad del eje óptico y precisión de imagen a largo plazo
Alta resolución y compatibilidad con múltiples monturas
- Cubre sensores desde 2/3 de pulgada hasta formato completo, admite cámaras de alta resolución de 20 MP+ y garantiza precisión en inspección y medición
- Compatible con C-Mount, F-Mount, M42 y otras monturas industriales estándar, con adaptadores personalizados para facilitar la integración del sistema
Amplias aplicaciones
- Industria de semiconductores y electrónica: inspección de obleas, detección de defectos FPC y enfoque compensado por infrarrojos
- Investigación y análisis de materiales: imagen multiespectral y experimentos de respuesta espectral
- Control de calidad industrial y visión industrial: inspección de materiales transparentes, detección de defectos superficiales e imagen de alto contraste bajo iluminación UV
¿Por qué elegir los objetivos multiespectrales de ToupTek?
Integración multiespectral
Un solo objetivo cubre las necesidades de imagen VIS/SWIR/UV, reduciendo la cantidad de equipos y el tiempo de cambio
Baja aberración y alta transmisión
El vidrio especial y el recubrimiento de banda ancha aseguran buena consistencia cromática y alto contraste
Diseño industrial de alta resolución
Compatible con 20 MP+, adecuado para inspección 2D/3D e imagen científica
Monturas flexibles
Compatibilidad con C-Mount, F-Mount y otros estándares para una integración rápida en sistemas existentes
Detalles del producto
Productos
La serie de objetivos lentes de la serie UV fue desarrollada especialmente para aplicaciones en la banda de longitudes de onda UV (200-1000nm). Combina diseño óptico avanzado y tecnología de recubrimiento optimizada para lograr mejores resultados de imagen en esa banda espectral. Esta serie se caracteriza por alta resolución, baja distorsión y alta transmisión, y cumple los requisitos de diversas aplicaciones como Inspección UV, Excitación de fluorescencia, Análisis de materiales.
Escenarios de aplicación
Inspección UV
Excitación de fluorescencia
Análisis de materiales
Ventajas clave
- Cobertura multiespectral: cubre luz visible, infrarrojo de onda corta (SWIR), UV y otros rangos espectrales para distintas necesidades de imagen por longitud de onda
- Diseño de alta resolución: diseño óptico avanzado compatible con sensores de alto número de píxeles, que ofrece imágenes nítidas y claras
- Baja distorsión: tecnología precisa de corrección óptica que garantiza fidelidad geométrica, adecuada para aplicaciones de medición de precisión
- Diseño de gran apertura: aporta más entrada de luz y resulta adecuado para aplicaciones con poca iluminación
- Robusto y confiable: diseño de grado industrial con carcasa metálica para un funcionamiento estable en entornos exigentes
Comparación de especificaciones de la serie lentes de la serie UV
| Modelo | Distancia focal | Apertura | Resolución | Distorsión | Montura | Manual |
|---|---|---|---|---|---|---|
| TPL-2528UV | 25 mm | F2.8-F32 | 100lp/mm | 0.40% | C | |
| TPL-5030UV | 50 mm | F3-F32 | 100lp/mm | 0.10% | C | |
| TPL-7538UV | 75mm | F3.8-F32 | 100lp/mm | -0.10% | C | |
| TPL-8528UV | 85mm | F2.8-F32 | 65lp/mm | 0.70% | F | |
| TPL-NV7838UV | 78mm | F3.8-F32 | 100lp/mm | -0.05% | C | |
| TPL-7838UV | 78mm | 3.8 | 0.10% | F |
Descripción del rendimiento óptico
Curva MTF
La función de transferencia de modulación (MTF) es un indicador importante para evaluar la calidad de imagen de un objetivo y muestra su respuesta a diferentes frecuencias espaciales. Nuestros objetivos mantienen excelentes valores MTF dentro del rango de frecuencia espacial de diseño, garantizando resultados de imagen nítidos y claros.
Corrección de aberración cromática
El uso de vidrios ópticos especiales y tecnologías de recubrimiento avanzadas corrige eficazmente la aberración cromática, especialmente en aplicaciones de amplio espectro, para asegurar que distintas longitudes de onda enfoquen en el mismo plano y se reduzca el desenfoque causado por la dispersión.
Control de distorsión
Gracias a un diseño óptico preciso y a procesos de fabricación controlados, la distorsión del objetivo se mantiene en un nivel extremadamente bajo. La mayoría de los modelos presenta una distorsión inferior al 1 %, y algunos modelos de gama alta alcanzan incluso menos del 0,1 %, cumpliendo los requisitos de medición de precisión.
Diseño optimizado para UV
Se emplean materiales transmisivos en UV, como vidrio de cuarzo, combinados con recubrimientos reforzados para UV, para garantizar buena transmisión en la banda UV de 200–400 nm manteniendo el rendimiento de imagen en el visible.
Garantía de rendimiento
Todos los objetivos se someten a estrictas pruebas de rendimiento óptico antes de la entrega para garantizar que cada unidad cumpla las especificaciones indicadas. Ofrecemos informes de prueba detallados y certificados de calidad.
Escenarios de aplicación
Aplicaciones prácticas de los objetivos multiespectrales en distintos sectores
Inspección de obleas semiconductoras
La penetración del SWIR en el silicio permite detectar defectos internos en las obleas, mientras que la luz visible se utiliza para la inspección de superficie, formando un sistema de control de calidad multidimensional.
- Detección de defectos internos
- Identificación de defectos superficiales
- Detección de marcas de alineación
Investigación en ciencia de materiales
La tecnología de imagen multiespectral ayuda a los investigadores a observar la respuesta de los materiales bajo distintos espectros, aportando datos importantes para el desarrollo de nuevos materiales y el análisis de rendimiento.
- Análisis de respuesta espectral
- Estudio de propiedades de materiales
- Mapeo de defectos
Control de calidad de productos industriales
Las longitudes de onda UV aumentan el contraste de defectos superficiales, el SWIR revela estructuras internas, y la luz visible permite inspeccionar color y apariencia para una garantía de calidad completa.
- Detección de defectos superficiales
- Análisis de estructuras internas
- Medición dimensional